AutorzyLewis M. Terman
Super cena
The Stanford Revision And Extension Of The Binet-Simon Scale For Measuring Intelligence - Lewis M. Terman
EAN: 9780548307557
Producent
Kod produktu
272GOS03527KS
Rok wydania
2007
Elementy
184
Oprawa
Miekka
Format
15.2x22.9cm
Język
angielski
Autorzy
Lewis M. Terman
Niepotwierdzona zakupem
Ocena: /5
Niepotwierdzona zakupem
Ocena: /5
Zapytaj o produkt
Napisz swoją opinię